Prof. Dr. rer. nat. Tobias Hagen

Professor - aktiv

Universität
Hochschule Offenburg
Fachbereich
Fakultät Betriebswirtschaft und Wirtschaftsingenieurwesen
Arbeitsbereiche
Wirtschaftsinformatik
Forschungsbereiche
Wirtschaftsinformatik
Business Intelligence
ERP Systeme
Programmieren
Land
Deutschland
Ort / PLZ
77723 Gengenbach
Strasse
Brückenhäuserstr. 26
Telefon
07803 9698-4496

Veröffentlichungen

Open Source Business Intelligence (OSBI) - Möglichkeiten, Chancen und Risiken quelloffener BI-Lösungen, U. Haneke, S. Trahasch, T. Hagen, T. Lauer (Hrsg.): Hanser Fachbuchverlag (erscheint September 2010)

Open Source Business Intelligence, T. Hagen, S. Trahasch: Dialog Nr.10 (12/2009)

Simplifying Ad Hoc Queries and Web Reporting with SAP?s New InfoSet Query, T. Hagen, K. Willenborg:, SAP Professional Journal (Jan. 2001)

Photovoltaic characterization of semiconductors with STM, T. Hagen, S. Grafström, J. Kowalski, R. Neumann: Appl. Phys. A 66 (1998)

Ion tracks in mica studied with scanning force microscopy using force modulation, R. Neumann, J. Ackermann, N. Angert, C. Trautmann, M. Dischner, T. Hagen, M. Sedlacek:, Nucl. Instr.. and Meth. in Phys. Res. B 116 (1996) 492-495

Ion tracks in mica studied with scanning force microscopy, J. Ackermann, N. Angert, R. Neumann, C. Trautmann, M. Dischner, T. Hagen, M. Sedlacek:, Nucl. Instr.. and Meth. in Phys. Res. B 107 (1996) 181-184

Friction force microscopy of heavy-ion irradiated mica T. Hagen, S. Grafström, J. Kowalski, R. Neumann, J. Vac. Sci. Technol. B 12(3) (May 1994)

Analysis of lateral force effects on the topography in scanning force microscopy, S. Grafström, J. Ackermann, T. Hagen, R. Neumann, O. Probst:, J. Vac. Sci. Technol. B 12(3) (May 1994)

The role of topography and riction for the image contrast in lateral force microscopy S. Grafström, M. Neitzert, T. Hagen, J. Ackermann, R. Neumann, O. Probst, M. Wörtge:, Nanotechnology 4 143-151 (1993)

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